LUPHOScan 850 HD 英國泰勒輪廓儀信息 |
點擊次數(shù):21 更新時間:2025-07-10 |
LUPHOScan 850 HD 是泰勒霍普森推出的一款大型光學工件精密檢測儀,基于多波長干涉技術(shù)(MWLI®),專為大型復雜光學應(yīng)用工件的精密檢測而設(shè)計。以下是其相關(guān)介紹: 測量原理:基于多波長干涉技術(shù)(MWLI®),通過測量傳感器在被測工件表面按預設(shè)路徑掃描,同時工件自身旋轉(zhuǎn),利用多波長干涉?zhèn)鞲屑夹g(shù)測量絕對距離,實現(xiàn)對工件表面三維面形的測量。 測量范圍:測量口徑范圍可從 5mm 到 850mm,測量高度可達 210mm,大工件負載可達 350kg,可滿足多種尺寸大型光學工件的檢測需求。 測量精度:具有高精度和高重復性的面形誤差測量能力,精度可達 <λ/20 (PV99i),RMS 最小可達 5nm*,能為大型光學工件提供高精度的測量數(shù)據(jù)。 可測工件類型:主要用于對非球面透鏡、球面、平面和輕微自由曲面等旋轉(zhuǎn)對稱表面的超高精密非接觸式三維表面形狀測量。 可測材料:幾乎能測量所有的材料,包括透明、鏡面、不透明、拋光或磨光面等,適用范圍廣泛。 功能特性:具備全新設(shè)計的 Flying spot 環(huán)紋抑制模式、基于相位的自動對焦、像素穩(wěn)定光學縮放及全新的變倍模式等。其智能設(shè)置功能可根據(jù)安裝的不同附件自動配置,還擁有 ZYGO 有氦氖穩(wěn)頻激光以及模塊化、密閉光學系統(tǒng)。 性能優(yōu)勢:測量速度快,對不常見的表面形狀,如平頂或有拐點的輪廓,具有高度靈活性,并且具有優(yōu)異的重復性。 |