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GalvanoTest 2000一般用法和測(cè)量原理
點(diǎn)擊次數(shù):2981 更新時(shí)間:2019-11-05
 

GalvanoTest 2000一般用法和測(cè)量原理:
根據(jù)DIN 50955 / ISO 2177的電量分析法或電化學(xué)去鍍技術(shù),適用于測(cè)量幾乎所有基材上的電鍍涂層,即:鋼,有色金屬以及絕緣材料(例如金屬)上的電鍍層鋼上的鎳,鋼上的鋅,銅上的錫,銅上的銀和環(huán)氧樹(shù)脂上的銅。該方法也適用于測(cè)量多層系統(tǒng)的各個(gè)涂層,例如鉻對(duì)鎳,銅對(duì)鋼。

測(cè)量原理基于法拉第定律。使用與電鍍方法相反的方法,從樣品中化學(xué)去除涂層。為此,將不銹鋼測(cè)量池放置在要測(cè)量的樣品上。電池充滿電解質(zhì)溶液,該電解質(zhì)溶液根據(jù)涂層/基體組合選擇。放置在樣品池和樣品之間的橡膠墊圈確定了測(cè)量區(qū)域,例如4平方毫米測(cè)量裝置電連接到電子處理單元。當(dāng)接通時(shí),恒定電流流過(guò)電解質(zhì)以電化學(xué)方式電化學(xué)去除金屬涂層。在整個(gè)電鍍過(guò)程中,可以在測(cè)量單元和要測(cè)量的對(duì)象之間觀察到定義的電壓。一旦金屬涂層被*去除,就會(huì)出現(xiàn)特征電壓躍變。該電壓跳變被測(cè)量?jī)x記錄下來(lái),以中斷電壓供應(yīng)并停止計(jì)時(shí)器。厚度立即以密耳或微米顯示。

 
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